X射线测厚仪 Thick800A_天瑞仪器 是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

供应天瑞X射线镀层测厚仪Thick800A 移动平台：精密的三维移动平台 样品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层

镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器 用于镀层行业的一款XRF膜厚测试仪器，设备关系到产品的质量以及生产成本，（例如：镀层厚度超过了电镀的标准，尤其对贵金属银、金等，将会大大提产品的成本，从而失去市场竞争力），天瑞仪器生产的THICK800A无损荧光镀层测厚仪配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加，实现“傻瓜”式操作。

X射线镀层测厚仪Thick800A是功能强大的 X 射线镀层测厚仪，配备高灵敏度的硅漂移探测器 （SDD） 以及微聚焦射线管；以及各种不同组合的准直器和滤波器，是完成严苛测量任务的理想之选。例如，借助 XDV 设备，您可以测量仅 5 nm 厚的镀层厚度及分析其元素成分，还可以对仅 10 μm 结构的工件进行测试。

上海X射线镀层测厚仪Thick800A 是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。