X射线镀层测厚仪Thick800A

X射线镀层测厚仪Thick800A仪器概述：

Thick 800A 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
2、性能优势
精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

X射线镀层测厚仪Thick800A技术指标：

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
Thick800A荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理电镀厚度检测仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
 特性
借助高性能 X 射线管和高灵敏镀的硅漂移探测器 (SDD)，可对超薄镀层进行测量
极为坚固的结构支持长时间批量测试，具有的长期稳定性
拥有大测量距离的XDV-μ LD型仪器（小12mm）
配备氦气充填的XDV-μ LEAD FRAME型仪器可测量的元素范围更广—从Na（11）到铀（92）
的多毛细管X射线透镜技术，可将 X射线聚焦在极小的测量面上
通过可编程XY工作台与Z轴（可选）实现自动化的批量测试
凭借视频图像与激光点定位，快速、准确地测量产品
THICK800A应用：
THICK800A镀层厚度测量
抗磨损镀层，如极小的手表元件上的 NiP镀层
机械手表机芯中可见部件上非常薄的贵金属涂层
测量已布元器件线路板
测量纳米级厚度的金属化层（凸点下金属化层，UBM）
C4 以及更小的焊接凸点测量（Solder Bump）
THICK800A材料分析
依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）
功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量
分析 和其他贵金属及其制成的合金
分析铜柱上的无铅焊料凸点（Solder Bump）
测试半导体行业中 C4 以及更小的焊接凸点（Solder Bump）
江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。