上海X射线镀层测厚仪Thick800A

上海X射线镀层测厚仪Thick800A 是一款快速、无损、准确检测镀层厚度新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，多一次分析五层。 分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层 检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm 分析含量：一般为2ppm到99.9% 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1% 稳定性：可达0.1% SDD探测器：分辨率低135eV 采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm 样品观察：

上海X射线镀层测厚仪Thick800A 配备全景和局部两个工业高清摄像头 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合 仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm 样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm 样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um 操作环境湿度：≤90% 操作环境温度 15℃～30℃。