x射线电镀测厚仪 样品处理方法简单或无前处理 可快速对样品做定性分析 对样品可做半定量或准定量分析 谱线峰背比高,分析灵敏度高 不破坏试样,无损分析 试样形态多样化（固体、液体、粉末等） 设备可靠、维修、维护简单 便捷、低廉的售后服务 快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。 无损：物理测量，不改变样品性质 ：对样品可以分析 直观：直观的分析谱图，元素分布一幕

X射线镀层厚度分析仪 是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF），专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构；精密度、度、检出限等技术参数超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到的测试效果。