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X射线镀层测厚仪的产品特点及应用范围
  • 发布日期:2018-09-26      浏览次数:726
    •        X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上的。强度的衰减将主要是由于材料对样品的吸收,以及从样品中反射的第二X射线的强度。测量了涂层等金属膜的厚度。因为有样品和X射线辐照对样品无接触只有45-75w,所以不会造成样品损伤。同时,测量也可以在10到几分钟内完成。
        X射线镀层测厚仪的特征:
        1、可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
        2、CCD摄像机可以观察和选择小面积测量涂层的厚度,避免直接接触或破坏被测物体。
        3、拥有镀层厚度测量和成分分析等250多个标准样品。
        X射线镀层测厚仪X射线荧光的物理意义:
        X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:钠米,nm)描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转,它们按不同的能量分布在不同的电子壳层:分布在同一壳层的电子具有相同的能量。
        当具有高能量的入射(一次)X射线与原子发生碰撞时,会打破原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层(如:K层)的电子更容易被激发而从原子中逐放出来,电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。仪器通过探测不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性,进行分析计算得到各镀层厚度,这一个过程就是我们所说的X射线镀层测厚仪。
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