随着技术的日益，特别是近年来引入微机技术后，
X射线镀层测厚仪采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使的检测工作经济地进行。下面我们来说说哪些因素会影响的测量结果。
1.基体金属厚度
每一种X射线镀层测厚仪都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。具体临界值可以参考表格。
2.基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
3.基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
4.边缘效应
X射线镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
以上就是会影响X射线镀层测厚仪测量结果的因素，希望能帮助大家更好地使用仪器。
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