镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器 用于镀层行业的一款XRF膜厚测试仪器，设备关系到产品的质量以及生产成本，（例如：镀层厚度超过了电镀的标准，尤其对贵金属银、金等，将会大大提产品的成本，从而失去市场竞争力），天瑞仪器生产的THICK800A无损荧光镀层测厚仪配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加，实现“傻瓜”式操作。

X射线镀层测厚仪Thick800A是功能强大的 X 射线镀层测厚仪，配备高灵敏度的硅漂移探测器 （SDD） 以及微聚焦射线管；以及各种不同组合的准直器和滤波器，是完成严苛测量任务的理想之选。例如，借助 XDV 设备，您可以测量仅 5 nm 厚的镀层厚度及分析其元素成分，还可以对仅 10 μm 结构的工件进行测试。

上海X射线镀层测厚仪Thick800A 是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

x射线电镀测厚仪 样品处理方法简单或无前处理 可快速对样品做定性分析 对样品可做半定量或准定量分析 谱线峰背比高,分析灵敏度高 不破坏试样,无损分析 试样形态多样化（固体、液体、粉末等） 设备可靠、维修、维护简单 便捷、低廉的售后服务 快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。 无损：物理测量，不改变样品性质 ：对样品可以分析 直观：直观的分析谱图，元素分布一幕

X射线镀层厚度分析仪 是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF），专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构；精密度、度、检出限等技术参数超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到的测试效果。