镀层测厚仪器采用磁性测厚方法，可无损伤检测磁性金属基体(如：铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
 

　　镀层测厚仪的工作原理：
 

　　将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和标准中称为覆层(coating))。
 

　　镀层测厚仪的优点介绍：
 

　　1. 测量速度快
 

　　2. 精度高精度，可达到1-2%
 

　　3. 稳定性高
 

　　4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
 

　　5.覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
 

　　6.X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。