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使用镀层测厚仪器时需要注意哪些细节?
  • 发布日期:2020-07-27      浏览次数:552
    •   镀层测厚仪器使用时需要注意的要点:
       
        1.基体金属特性:对于磁性方法,镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
       
        2.基体金属厚度:镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
       
        3.边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
       
        4.曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
       
        5.读数次数:通常镀层测厚仪器的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
       
        此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,保证镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响镀层测厚仪的时候,此外还应该注意都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。
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