X射线镀层测厚仪Thick800A_天瑞仪器

 X射线镀层测厚仪Thick800A_天瑞仪器 

 
性能特点及优势
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准，微小测试点更。
X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。

 X射线镀层测厚仪Thick800A_天瑞仪器 标准配置
开放式样品腔。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
技术指标
产品名称：X射线镀层测厚仪
型号：Thick 800A
度适应范围为15℃30℃。
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
金属镀层的厚度测试, 电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。

X射线镀层测厚仪广泛应用于电子电器、五金工具、印刷线路板、电镀铝合金企业等。