安徽镀层测厚仪THICK800A,天瑞仪器 是一款专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特别设计了该款仪器，其特点可以概括为以下几点

镀层测厚仪器THICK800A,天瑞仪器 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层 检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1% 同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合

镀层测厚仪EDX4500,天瑞仪器 设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 （RFA） 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

台式全自动镀层测厚仪THICK800A 凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL? 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

镀层无损测厚仪THICK800A,天瑞仪器 是通用的镀层厚度测试和材料分析仪器，提供目前的性价比。 THICK800A镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。