台式全自动镀层测厚仪THICK800A

  台式全自动镀层测厚仪THICK800A  特性：
X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
由于测量距离可以调节（可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

   台式全自动镀层测厚仪THICK800A  应用：
THICK800A镀层厚度测量
大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析
电镀槽液分析
电子和半导体行业中的功能性镀层分析
江苏天瑞仪器股份有限公司生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。