膜厚测量仪Thick800A-天瑞仪器，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元

膜厚测试仪 Thick800A 天瑞仪器 产品介绍： Thick800A型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

膜厚测量仪THICK800A,天瑞仪器产品介绍： Thick800A型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

金属膜厚测试仪THICK800A,天瑞仪器 应用领域 金属膜厚测试仪应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等，广泛应用于电子电器、高压开关、国家电网、汽车配件 五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等，天瑞仪器售后服务方便，维护成本低。

膜厚测试仪 Thick800A,天瑞仪器 同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品，是线路板,五金电镀,饰,端子等行业的，可测量各类金属层、合金电镀厚度。