镀铬层测厚仪,THICK800A,天瑞仪器 如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求： 1.不破坏的测量下具高精密度。 2.极小的测定面积。 3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。 4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。 5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。 而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下

铜基镀镍测厚仪,THICK800A采用上照式方式，满足不同规格产品的检测，降低了对产品规格的要求，满足拿来即测的需求，主要应用在镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑、镀银等金属镀层厚度检测.

镀层测厚检测仪,thick800a,天瑞仪器配置达到了智能化水平，二维移动平台基本达到了三维效果，测试点与点之间的微小距离更加，采用上照式方式，满足不同规格产品的检测，降低了对产品规格的要求，满足拿来即测的需求，主要应用在镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑、镀银等金属镀层厚度检测.

天瑞电镀镀层测厚仪_THICK800A 是x射线测厚仪Thick800A的生产厂家，是一家以X射线荧光光谱仪的研发生产为主，兼营光谱，色谱，质谱三类分析仪的综合性检测仪器上市公司，股票代码300165！

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