产品展示
PRODUCT DISPLAY
产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > 镀层测厚仪器 > 镀层测厚仪 >银镀层测厚仪_THICK800A

银镀层测厚仪_THICK800A

简要描述:

银镀层测厚仪_THICK800A又名X荧光镀层测厚仪,膜厚仪,涂镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,镀层厚度测量仪,X荧光镀层测厚仪,X射线荧光镀层测厚仪,镀金镀层测厚仪,镀银层测厚仪,铜镀银厚度测量仪,镀镍镀银镀锌测厚仪,天瑞仪器x射线测厚仪,国产镀层测厚仪,Thick800A镀层测厚仪,x-ray镀层测厚仪,x-ray涂镀层厚度分析仪。金属镀层x射线荧光是利用x射线照射样品激发元素荧光的方式,检测荧光

更新日期: 2023-11-08

访问次数:764

在线咨询 点击收藏

银镀层测厚仪_THICK800A 是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
江苏天瑞仪器股份有限公司是x射线测厚仪Thick800A的生产厂家,是一家以X射线荧光光谱仪的研发生产为主,兼营光谱,色谱,质谱三类分析仪的综合性检测仪器上市公司,股票代码300165!
 镀层测厚仪THick800A实体照


银镀层测厚仪_THICK800A性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业

 

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线客服