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天瑞镀层测厚仪thick800A仪器性能及技术参数
  • 发布日期:2020-03-19      浏览次数:224
    • 发布时间:2017-03-14 阅读:473次

      天瑞镀层测厚仪thick800a仪器性能及技术参数

      型号:800A


      原理:X射线荧光光谱仪

      生产厂商:skyray

      天瑞800A镀层测厚仪

       

      性能特点:


      满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

      φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求


      采用高度定位激光,可自动定位测试高度


      鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点


      良好的射线屏蔽作用

      测试口高度敏感性传感器保护

      详细配置信息:

      硬件:主机壹台,含下列主要部件:

      (1) X光管 (2) Si-PIN电制冷半导体探测器

      (3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台

      (5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源

      (7) 开放式样品腔 (8)双激光定位装置

      (9) 铅玻璃屏蔽罩

      软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

      技术指标:

      1.1 分析元素范围:K-U

      1.2 同时可分析多达5层镀层

      1.3 分析厚度检出限高达0.005μm

      1.4 定位精度:0.1mm

      1.5 测量时间:5s-300s

      1.6 计数率:0-8000cps

      1.7 Z轴升降范围:0-140mm

      1.8 X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)

      工作环境要求:

      2.1 环境温度要求:15℃-30℃

      2.2 环境相对湿度:<70%

      2.3 工作电源:交流220±5V

      2.4 周围不能有强电磁干扰。

       

      天瑞800A镀层测厚仪

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