镀层膜厚仪THICK800A 的工作原理： 镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等（在有关国家和标准中称为覆层（coating））。

涂层膜厚仪 是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

涂层膜厚仪 是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

PCB镀层测厚仪 是利用XRF技术解决国内有色金属成份、快速、无损分析。该技术的主要特征为：利用X光在真空条件下激发待测元素，对Ni、Fe、Cu、Au等元素有良好的激发效果，由于X射线具有穿透性，多镀层分析时，每一层的特征X射线在出射过程中，都会互相产生干扰。

X射线测厚仪,thick800a,天瑞仪器 用于镀锌，镀镍层，镀银层检测分析， Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于电镀层厚度检测分析的产品仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。