服务电话:
13802284651
产品展示
首页 > 产品展示 > > 镀层测厚仪器 > XRF元素分析仪

XRF元素分析仪

描述:XRF元素分析仪Thick800A通过分析荧光的强度来计算出金属电镀层厚度的测试设备。电镀层测厚仪通过计算机自动操作,自动检测算出电镀层厚度,操作方便。 提供质量稳定性价比高的电镀层测厚仪Thick800A,镀层测厚仪用于分析电镀锌层厚度,电镀银层厚度,电镀铬层厚度,电镀锌层厚度,电镀镍层厚度,金属电镀测厚仪比较好的品牌是天瑞仪器,三大主流品牌之一。

更新时间:2023-11-09
产品型号:Thick800A
厂商性质:生产厂家
详情介绍

XRF元素分析仪Thick800A产品介绍:

是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定; 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

XRF元素分析仪Thick800A性能优势:

精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

XRF元素分析仪Thick800A技术指标:

分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低135eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7