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镀铬测厚仪_天瑞仪器

简要描述:

镀铬测厚仪_天瑞仪器
测量标准



1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

更新日期: 2023-11-08

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 镀铬测厚仪_天瑞仪器

 样品测试步骤

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”:用户使用“Administrator”,密码:skyray
2.进入测试软件后,选择“测试条件”点击“确定”,即测试条件确定(仪器已设置好)
3.选择“工作曲线”如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器进行初始化初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到一定的数,如300以上)。
5.待测样品测试放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。
6.测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。 

 镀铬测厚仪_天瑞仪器技术参数

1.长效稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器 产品—信噪比增强器(SNE)
4.内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器,数据处理快速准确
6. 手动开关样品腔,操作安全方便
7.三重安全保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件,无标准样品时亦可测量

 

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence 
硬件配置 
                                      
1 探测器1.1. 电制冷半导体探测器分辨率:160±5电子伏特;1.2. 对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。   2 光管2.1. 使用寿命大于2万小时;2.2. 产生X射线激发样品。3 高、低压电源3.1. 管压:5KV~50KV,管流为1000uA;3.2. 为X光提供电源。4 放大电路:                              4.1.对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机。5 高清晰摄像头        5.1试样观察;6 移动平台(自动)        3.6.1样品微调移动平台,保证样品测试位置准确性。7 样品腔8 准直器9 标准样品(欧盟标样):
11.1 0#标样、塑胶标样、银校正片各一片。

仪器保养

镀铬测厚仪属贵重精密仪器,使用存放中必须注意保养。1.若仪器放置不用时,就需要用防尘罩盖好,放在干燥、通风的安全之处。2.在使用中要注意以下几项:①    键盘操作,动作要轻,不可用力过猛,以免损坏键盘。②    向样品腔内放样品时,一定要注意清洁,不可使样品尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏。③    样品盖需要用酒精棉球做好清洁工作。3.常规保养①    为了保持仪器的良好外观,需经常对仪器表面做清洁工作。用软布擦拭灰尘。如有污点,请用酒精棉球轻轻擦净。②    使用、保存和搬动中,要特别小心,以免磕碰、损伤外表、损坏内部线路。③    为使仪器能长期工作正常,需定期对各项参数进行测试,并进行调整。 

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