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  • 天瑞仪器X荧光光谱测厚仪 查看详细介绍

    天瑞仪器X荧光光谱测厚仪 分析范围:同时可以分析30种以上元素,五层镀层 检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm 镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1% 同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层 准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合

    更新时间:2025-01-16

    厂商性质:生产厂家

    产品型号:

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