天瑞仪器X荧光光谱测厚仪

  天瑞仪器X荧光光谱测厚仪  项       目 参        数 
测量元素范围 Cl（17）-U（92） 
涂镀层分析范围 P（15）-U（92）可区分检测电镀镍和化学镍 
分析软件 EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析 
软件操作 人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误 
X射线装置 W靶微聚焦加强型射线管 
准直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四准直器自动切换 
近测距光斑扩散度 10% 
测量距离 具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm) 
样品观察 1/2.5彩色CCD，变焦功能 
对焦方式 高敏感镜头，手动对焦 

放大倍数 光学38-46X，数字放大40-200倍 
  天瑞仪器X荧光光谱测厚仪样品台尺寸 500mm*360mm 
移动方式 高精密XY手动滑轨 
可移动范围 50mm*50mm 
随机标准片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 
其它附件 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 
厂家介绍

X荧光测厚仪生产生产厂家——江苏天瑞仪器股份有限公司，新款Thick 8000X荧光测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层膜厚测试仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。金属镀层分析仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、XRF镀层测厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成。
测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987