Thick800A镀层测厚仪详细配置 移动平台：精密的三维移动平台 样品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层

Thick800A X射线测厚仪_天瑞仪器 可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

Thick800A_天瑞仪器 是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

THICK-800A系列X荧光镀层测厚仪 是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息

天瑞测厚仪Thick800A,天瑞仪器 ；功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22（Ti）到92（U）;5 层 （4 镀层 + 基材） / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、