THICK-800A系列X荧光镀层测厚仪

   THICK-800A系列X荧光镀层测厚仪 能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
      我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发及生产技术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900系列X荧光镀层测厚仪具有快速、、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

   THICK-800A系列X荧光镀层测厚仪仪器特点：
      1.仪器外观选用*的流线型设计，时尚雅致。
      2.同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
      3.可以分析多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
      4.无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
      5.检出限可达到2ppm。
      6.分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
      7.采用美国原装、的探测器，能量分辨率高。
      8.采用美国原装、的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
      9.X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
      10.采用彩色摄像头，观察拍摄样品。
      11.采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，方便。
      12.采用双激光对焦系统，定位测量位置。
      13.高度传感器。
      14.保护传感器，有效保护探测器。
      15.度高，稳定性好，故障率低。
      16.辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保
      护，辐射安全性可靠。
      17.WINDOWS XP 中文应用软件，*的分析方法，完备强大的功能，操
      作简单，使用方便。
二.仪器的技术特性
      1.X-Y-Z样品平台移动装置
      Thick-800A系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。  
      2. X射线管激发系统
      激发系统采用*的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、水平的X光管，指标达到水平。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。 
      3．高分辨率的探测器系统
      进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。分辨率能达到149eV±5ev。
      4．能谱仪电子学系统
      *前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。
      5．计算机分析系统
      计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
      激光打印机。
      6．系统软件
      *的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、
      理论α系数法等多种经典分析方法，：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的性。
      7．电源  
      AC 220V～240V、50Hz 。
      额定功率：120W。选配高精度参数稳压电源。
      8．仪器尺寸、重量
      样品腔尺寸：465*360*138 mm（W*D*H）
      主机外形尺寸：575*491*570 mm （W*D*H）
      主机重量：约50KG。
 三.应用领域:
      塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
      1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。