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主营产品：光谱仪，X射线镀层测厚仪，ROHS十项检测分析仪，ROHS2.0测试仪，X荧光测厚仪，手持式合金光谱仪，ROHS设备，电镀镀层测厚仪，天瑞ROHS检测仪，邻苯本甲酸酯测试仪

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金属化膜电容器成分分析仪天瑞仪器

描述：使用X射线荧光光谱仪（XRF）测量金属化膜电容器镀层中的铝（Al）和锌（Zn）含量是一种快速、无损、高效且广泛应用的技术。金属化膜电容器成分分析仪天瑞仪器

更新时间：2025-06-13
产品型号：EDX4500H
厂商性质：生产厂家
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详情介绍

使用X射线荧光光谱仪（XRF）测量金属化膜电容器镀层中的铝（Al）和锌（Zn）含量是一种快速、无损、高效且广泛应用的技术。以下是其应用、原理、优势及注意事项的详细说明：

    X射线荧光光谱仪（XRF）⭐核心原理

1. 激发：XRF仪发出高能初级X射线束，照射到样品（电容器的金属化膜）表面。

2. 电离：初级X射线使样品表层（通常几微米深度）元素的内层电子（如K层或L层）被激发弹出，形成空穴。

3. 驰豫发射：处于不稳定状态的原子外轨道电子向内跃迁填充空穴时，会释放出特定能量的二次X射线（特征X射线荧光）。

4. 检测分析：探测器接收这些发出的特征荧光X射线。不同元素具有特定的特征X射线能量（或波长）：

o 铝：Kα线约为1.486 keV（或Lα线约1.487 keV）。

o 锌：Kα线约为8.638 keV。

5. 定量：通过测量Al和Zn特征峰线的强度（谱图中峰的面积或高度），结合校准曲线（使用已知含量的标准样品建立），即可计算出镀层中铝和锌的质量百分比（重量%）或在镀层厚度方向上的含量分布（通过深度剖析模式）。

金属化膜电容器成分分析仪天瑞仪器  产品说明、技术参数及配置

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

金属化膜电容器成分分析仪天瑞仪器    性能特点

超薄窗X光管
数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好
FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

煤灰成分元素快速分析仪天瑞仪器  标准配置

超薄窗X光管
FAST-SDD探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

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