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XRF镀层测厚仪,Thick800A, 股份有限公司

简要描述:

X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。XRF镀层测厚仪,Thick800A, 股份有限公司

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XRF镀层测厚仪是x射线激发样品产生的荧光,通过分析荧光的强度来计算出金属电镀铬层厚度的测试设备。电镀银层测厚仪通过计算机自动操作,自动检测算出电镀镀银层厚度,操作方便。天瑞仪器是国际品牌,提供质量稳定性价比高的电镀铬层测厚仪thick800aXRF镀层测厚仪用于分析电镀锌层厚度的,电镀银层厚度,电镀铬层厚度,电镀锌层厚度,电镀镍层厚度,金属电镀镀银测厚仪比较好的品牌是天瑞仪器,国际三大主流品牌之一,产品质量稳定性仅次于德国菲希尔。天瑞仪器金属镀层测厚仪拥有德国的质量,国产的价格,值得了解。

 

 

XRF镀层测厚仪thick8000

     

 Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定; 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低135eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃

铜镀镍测试图谱:

铜镀镍测试结果:

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257


 

 

      XRF镀层测厚仪性能优势:

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

方便:

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。XRF镀层测厚仪,Thick800A, 股份有限公司

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便,在镀层行业中可谓大展身手。

软件图片:

 

 

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
XRF镀层测厚仪,Thick800A, 股份有限公司

核心部件(美国进口)

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机  

应用领域

,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。

天瑞仪器膜厚测试仪thick800a图谱

某知名国外品牌镀层测厚仪图谱,不清晰,元素谱线干扰严重

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