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天瑞仪器X荧光镀层测厚仪

简要描述:

天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家,分析仪器上市企业,Thick8000是目前公司达的一款,有着的三维移动平台,清晰的样品观测系统,国内品牌。

更新日期: 2023-11-08

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天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 
硬件
全景和局部两个工业高清摄像头
高低压电源
主机壹台,含下列主要部件: 
微焦斑X光管                 
大面积SDD电制冷半导体探测器
数字多道分析器
超高精度三维移动平台
开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩
电动调节准直器
防撞激光保护器
激光定位装置及图像自动对焦技术
软件及其他
天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件
计算机、打印机各一台
仪器使用说明书
标准附件
准直孔:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种(已内置于仪器中)


天瑞仪器X荧光镀层测厚仪技术指标
的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低135eV
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃

 

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