国产镀层测厚仪_天瑞仪器

 
国产镀层测厚仪_天瑞仪器 仪器配置                                            1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： (1)   X光管                 (2) 半导体探测器(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。5   标准附件准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中） 参数规格1   分析元素范围：S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位精度：0.1mm6   测量时间：30s-300s7   计数率：1300-8000cps8   Z轴升降范围：0-140mm9   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)性能特点1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；3 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度；5 定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；6 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；7 高分辨率探头使分析结果更加精准；8 良好的射线屏蔽作用；9 测试口高度敏感性传感器保护；
安装要求：1   环境温度要求：15℃-30℃2   环境相对湿度：<70%3   工作电源：交流220±5V4   周围不能有强电磁干扰。 质量保证1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；3.

国产镀层测厚仪_天瑞仪器 应用领域铁基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，       
  □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag铜基-----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr锌基-----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au镁铝合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑胶基体----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr 应用优势1   快速：一般测量一个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；2   无损：物理测量，不改变样品性质；3   准确：对样品可以分析；4   直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；5   环保：检测过程中不产生任何废气、废水。