镀铜测厚仪_天瑞仪器

镀铜测厚仪_天瑞仪器

仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-20052 
2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3 库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

镀铜测厚仪_天瑞仪器厂家优势 

天瑞公司有完善的质量管理体系，从进口核心零部件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，进行产品质量的管理，每道工序进行严格的检验，绝不允许不合格的流到下到工序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量可靠，用户使用放心。

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

应用领域

镀层厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测；
合金成分分析；

测试步骤

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：用户使用“Administrator”，密码：skyray
2.进入测试软件后，选择“测试条件”“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）
3.选择“工作曲线”如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器进行初始化初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。
5.待测样品测试放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。“开始”，输入样品名称后“确定”。
6.测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。 

技术参数 

1   分析元素范围：S-U
2   可分析多达3层以上镀层
3   分析厚度检出限达0.02μm
4   多次测量重复性可达0.05μm
5   定位精度：0.5mm5   测量时间：30s-300s
6   计数率：1000-8000cps
7  仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。

性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片手动切换：不同样品材质用不同的准直器移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的性镀铜测厚仪新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率 

硬件配置   
                                    
1. 探测器
2. 高、低压电源
3. X光管                             
 4. MCA多道分析器
5. 高精密摄像头
6. 移动平台（自动）
7. 准直器
8. 标准样品