天瑞仪器镀银层测厚仪Thick800A

 天瑞仪器镀银层测厚仪Thick800A

仪器介绍

Thick800A高压开关镀银层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

 天瑞仪器镀银层测厚仪Thick800A性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A高压开关镀银层测厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

便携式镀层设备

技术参数

测试元素范围原子序数为12～92【镁（Mg）到铀（U）】之间的元素均可测量
分析厚度范围0.01～50um（实际分析范围随元素种类和层数不同）
分析层数可达五层
分析时间5～30秒
曲线类型基本参数FP法和经验系数EC法
50KV/激发源 200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
探测器SDD半导体探测器
探测器分辨率可达125eV
准直器和滤光片直径4.0mm和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换
视频系统500万像素的高清晰摄像头
显示屏5寸液晶显示触摸屏，其分辨率是1080x720
内置系统GPS、Wi-Fi、蓝牙
微电脑系统工业定制系统CPU: 1G 系统内存: 扩展存储支持32G，标配4G，可以海量存储数据。
电源
可充电锂电池，标配9000mAh 可持续工作12小时；可选配27000mAh超大电池，
配有宽电压110V～220V通用适配器，可充流供电使用。
测厚检出限检出限可达0.01um
安全性
多重安全防护，不测试，，工作时的辐射水平远低于安全标准，且具有无样品空测，
自动关X光管功能。标配辐射屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁。
仪器外形尺寸244mm（长）x 90mm（宽）x 330mm（高）
仪器重量1.7Kg
性重金属分析软件，采用智能一键测试和智能判断功能
数据传输数字多道技术，SPI数据传输，快速分析，高计数率；防水迷你USB，并且可以外接台式电脑。
仪器重量1.7Kg
操作环境湿度≤90%
智能三色预警
指示系统
通电开机时绿色电源指示灯亮，测试时红色辐射警告指示灯闪烁，
设备出现故障黄色辐射指示灯闪烁。
附 件
三防军工保护箱，具有抗压、防水和减震作用。通用充电器及车载充电器，4G SD存储卡和读卡器，
两块锂电池及充电器，PDA附件，辐射屏蔽罩。选配件：超大电池，座式测试支架，蓝牙打印机，粉碎机，
手动压样机，多种目筛等

性能优势

微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智
能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精
度。
采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全
新自主研发的数字多道技术，每秒有效采谱计数可达
500kcps
准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下
的检测需求。
内置500万像素高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测
量更加。

智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度*显
示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪
烁，仪器状态，一目了然。
三重安全防护功能：
a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。
b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。
c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。
安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，时间
保护您的安全，守护后关卡。

重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有仪器套，
更易抓握，野外使用更方便。
无需制备样品，可直接对待测物