高性能镀层测厚仪THICK800A

 高性能镀层测厚仪THICK800A   

 产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷   
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义

 高性能镀层测厚仪THICK800A   快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
镀层厚度分析范围：0.01~50um（材料不同，略有差别）
支持多点自动测试，方便对大样品进行多点检测
分析时间：0~50S（用户可以根据要求自行调节）
相互独立的基体效应校正模型、多变量非线性回收程序，支持非标样FP法测试
仪器尺寸：576（W）×495（D）×545（H）mm
仪器重量：90KG