天瑞仪器镀层测厚仪标准片

  天瑞仪器镀层测厚仪标准片 

移动平台：精密的三维移动平台
样品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合

  天瑞仪器镀层测厚仪标准片 ,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII、Elite、天瑞、华为计量等)，本公司有多种品牌，规格齐全，可批发零售 
1.薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）； 铑（Rh）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2.镀层标准片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.