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镀层厚度分析仪

简要描述:

镀层厚度分析仪 是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对THICK800A主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定

更新日期: 2023-11-08

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 镀层厚度分析仪 分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多5层、15种元素。数据统计功能允许用户自定义多媒体分析格式,以满足您特定的分析格式要求;如在分析中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。


 镀层厚度分析仪 产品特点:

THICK800A系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点小可达0.025 x 0.051毫米。

THICK800A系列采用开槽式样品室,它可提供三种规格的样品台供用户选用,分别为:
 
标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。                                                   
                                                                                                                                                                                                                                            
加深台:可调高度型标准样品台,XY轴手动控制、Z轴自动控制。
                                                                                                                                
程控样品台:XYZ轴自动控制。
                                                                                                                             
 产品规格:


No. 主要规格 规格描述 
 
1 激发系统 垂直从上下照式光学系统 
 
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 
 
 
 
标准靶材: W 
 
 
 
功率:50W (4-50kV,0-1.0mA)-标准
功率可编程控制 
 
 
 
装备有安全防射线光闸
  
 
 
 
2 滤光片程控交换系统 根据靶材,标准装备有相应的一次滤光片系统 
 
二次滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 
 
 
 
位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
  
 
 
 
3 准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制 
 
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16 mil等
  
 
 
 
4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 
 
在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
  
 
 
 
5 X射线探测系统 封气正比计数器 
 
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路 
 
 
 
6 样品室          THICK800A 
 

 -样品室结构 开槽式样品室 
 
-样品台尺寸 长宽610mm x 610mm 
 
 
-样品高度 标准台33mm 加深台160mm 程控台33mm 
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm 
 
 
-Z轴程控移动高度 43.18mm 
 
 
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 
 
 

 -样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。
明暗度可调,具有刻度的十字标尺 
 
激光辅助聚焦功能 
 
 
 
7 计算机系统配置 联想计算机:2.8G奔腾IV处理器,1G内存,1.44M软驱,250G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸液显,或更高配置。
  
 
8 分析应用软件 操作系统:Windows7.0中文平台
分析软件包:SmartLink FP软件包 
 
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围 
 
 
-基本分析功能 无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 
 
 
样品种类:镀层、涂层

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