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X射线荧光镀层测厚仪器

简要描述:

X射线荧光镀层测厚仪器
技术指标



元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

较薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃30℃

电源: 交流22

更新日期: 2023-11-08

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 X射线荧光镀层测厚仪器 测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800AX射线荧光镀层测厚仪对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行准确定位测试,其测试位置如图。
 
 

样 品 名 成分Ni(%) 镀层Ni(um) 
吊扣 100 19.321 
吊扣2# 100 19.665 
吊扣3# 100 18.846 
吊扣4# 100 19.302 
吊扣5# 100 18.971 
吊扣6# 100 19.031 
吊扣7# 100 19.146 
平均值 100 19.18314 
标准偏差 0 0.273409 
相对标准偏差 0 1.425257 

铜镀镍件测试值


 X射线荧光镀层测厚仪器结论
实验表明,使用Thick800A X射线荧光镀层测厚仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。
产品介绍
江苏天瑞仪器是X射线荧光镀层测厚仪的生产厂家,距离上海15分钟车程,极大方便了周边企业的维护,镀层厚度是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800AX射线荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测试仪器,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准。
性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
较小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可准确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

 

 

 

 

  

   

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