XRF检测仪器EDX1800B电制冷Si-PIN探测器：信噪比增强器 下照式：可满足各种形状样品的测试需求：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用 精细的手动移动平台，方便定位测试点：高分辨率探测器：提高分析的性

ROHS镀层光谱分析仪EDX1800B是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。 ROHS镀层合金光谱分析仪EDX1800B镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更方便

304不锈钢检测仪器EDX1800B标准配置 移动样品平台 电制冷Si-PIN探测器 信号检测电子电路 高低压电源 新型X光管 计算机及喷墨打印机

ROHS检测仪EDX1800B不仅继承了天瑞仪器EDX系列、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业的极速探测器技术（X-SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX1800B还采用了天瑞仪器产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，设计自动样品平台让检测得到。

X荧光光谱仪EDX1800B能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都能分析，而要分析的样品必须经受在真空（4~5Pa）环境下测定，与其他分析技术相比，XRF具有分析速度快，稳定性和精密度好以及动态范围宽等优点。