X荧光光谱仪EDX1800B

 X荧光光谱仪EDX1800B能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都能分析，而要分析的样品必须经受在真空(4~5Pa)环境下测定，与其他分析技术相比，XRF具有分析速度快，稳定性和精密度好以及动态范围宽等优点。 

 X荧光光谱仪EDX1800B工作原理 
　　X-荧光光谱仪有两种类型：一种是波长色散型(WDX)，一种是能量色散型(EDX)，在WDX中，荧光光谱通过色散元件(如晶体)被分离成不连续的波段，然后用气体正比计数器或闪烁计数器检测，其主要组成是X光管、初级准直器、晶体、次级准直器和探测器，及辅助装置如初级滤光片等。 
　　SDD探测器X荧光仪共有2个探测器，即流气正比计数器和闪烁计数器，装在探测器架上，可程控切换.扫描式X射线荧光仪安装的是具有很大测定灵活性的测角仪，只要配备了必要的分析晶体就能按序分析周期表上多达83个元素。 
　　X射线荧光光谱仪的基本原理 
　　被测试样进入光谱仪后，受到来自X光管发出的X射线光束激发，产生X荧光，X射线荧光是指用X射线管或其它合适的辐射源照射物质时，使组成物质的原子产生具有特征性的一种次级X射线，X光管发射的光谱是有靶材元素(Rh铑)的特征谱和连续谱(或称白色辐射)所组成，来自样品的辐射是由X光管光谱和样品中各元素的特征谱所组成的混合光，这种混合光被引入测角仪所组成的色散系统分光，分光后所得的谱线和被测样品中存在的元素有关。 

EDX1800B

rohs2.0检测仪性能参数

专门应对rohs2.0、卤素等环保指令的检测

集成FP法、Alpha系数法、经验系数法，多种数据处理方式，能更*的应对非常规产品的检测

可生成各种人性化的检测报告

软硬结合的防辐射设计，使仪器操作人员更安全

操作简便、一键式操作设计

智能软件自动设定参数和滤光片

快速无损分析样品

多种语言的操作系统

超温保护、超载保护

无需耗材

rohs2.0检测仪EDX1800B技术规格

探测器：美国Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统

高压电源：美国Spellman 50w（50kv/MA）

X射线管：50w侧窗铍窗型X射线管

能量分辨率：160ev

元素分析范围：硫（S）-铀（U）

测量时间：60－300S

测量含量范围：ppm-99.9%

电源：220V 建议配备1000W交流稳压电源

工作温度：15-30°C

测量条件：大气环境

rohs2.0检测仪EDX1800B标准配置

美国Amptek Si-PIN探测器

美国Amptek 信号检测电子电路

美国spellman 高压电源

侧窗铍窗型X光管

品牌计算机（联想）和品牌激光打印机（佳能）

可安装三套独立软件（环保rohs、镀层分析、全元素成分检测），真正做到一机多

rohs2.0检测仪EDX1800B应用领域

电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的rohs2.0、无卤检测