电镀层膜厚分析仪THICK800A，天瑞仪器 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

电镀层膜厚仪Thick800A,天瑞仪器 是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

电镀层膜厚测试仪 是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层（镀金、镀镍、镀锌）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

电子元件膜厚仪 性能优势： 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。 高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。 精密微型滑轨：快速定位样品。 EFP算法软件：多层多元素，甚有同

膜厚检测仪,thick800a,天瑞仪器 是天瑞仪器镀层系列产品中的“明星产品”，其配置达到了智能化水平，二维移动平台基本达到了三维效果，测试点与点之间的微小距离更加，采用上照式方式，满足不同规格产品的检测，降低了对产品规格的要求，满足拿来即测的需求，主要应用在镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑、镀银等金属镀层厚度检测.