Thick8000 X荧光镀层测厚仪 是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

X射线膜厚仪Thick8000 是公司新款的X射线膜厚检测仪，采用上照方式，移动测试平台，使整个自动化程度大幅度提高，满足快速的要求。

Thick8000X射线光谱分析仪 是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子，俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值，电脑操作，非常简单，江苏天瑞仪器股份有限公司是X射线膜厚检测仪生产厂家，thick8000是公司新款的X射线膜厚检测仪，采用上照方式，移动测试平台，使整个自动化程度大幅度提高，满足快速的要求。