X射线荧光膜厚测试仪 Thick800A 性能特点优势 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加，微小测试点更。

Thick800AX射线荧光镀层分析仪, 研发用于电镀层行业的一款无损测试仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，*达到了自动化，是一款功能强大的仪器，为客户解决了测试难题，在行业中大展身手。

X射线荧光膜厚测试仪Thick800A 移动平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层

X射线测厚仪Thick800A 可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，*达到了自动化，是一款功能强大的仪器，为客户解决了测试难题，在行业中大展身手。

Thick800A膜厚测试仪 是经过天瑞仪器集多年的经验，研发用于电镀层行业的一款无损测试仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，*达到了自动化，是一款功能强大的仪器，为客户解决了测试难题，在行业中大展身手。