X荧光多元素分析仪

产品用途：
X荧光多元素分析仪，是天瑞仪器自主研发生产的仪器，主要应用于合金元素检测、ROHS检测、矿石元素分析、炉渣分析、土壤分析等。
硬件：
主机壹台，含下列主要部件：
(1)X光管  Rh靶材                      (2)SDD电制冷半导体探测器
(3)放大电路和数字多道分析器             (4)高压电源系统
(5)高清晰摄像头                         (6)自动切换准直器
(7)自动切换滤光片                       (8)准直器和滤光片自由组合
(9)可抽真空样品腔及真空泵               (10)嵌入式液晶屏90mm×70mm
软件及其他：
天瑞X荧光光谱仪成分分析软件V2.0
计算机、打印机各一台
资料：仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件：
(准直孔：包括Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф4.0mm、Ф3.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个，共8个（已内置于仪器中）；
滤光片：5种组合（已内置于仪器中）；
标准样品（欧盟标样）：0＃标样、塑胶标样各一片、银校正片一片。
技术指标：
分析元素范围：Na-U
测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）
高压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
元素测量范围：PPM级-99.99%
能量分辨率：145±5eV
测量时间：60s-300s
计数率：计数率可高100000cps
RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。
X荧光多元素分析仪工作环境要求：
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。
环境温度要求：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%