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XRF- X荧光光谱仪

简要描述:

XRF- X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

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XRF- X荧光光谱仪产品介绍

 

铝业网图片

 

是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对SiPSAlMg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的CrNiMo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到国际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器产品&mdash信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对SiP等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性

高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

 

技术参数

 

产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U

元素含量分析范围: ppm&mdash99.99(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
分析精度:0.05 (含量高于96以上的样品、21次测试稳定性)
测量时间:30200
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV50KV
管流:50&muA1000&muA
测量对象状态:粉末、固体、液体

输入电压:AC 110V220V
环境温度:1530
环境湿度:3570
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

 

标准配置XRF- X荧光光谱仪

 

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术

信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

 

应用领域

 

XRF-X荧光光谱仪广泛应用于合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素) 、镀层检测等行业。

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