产品展示
PRODUCT DISPLAY

打印当前页

分享到:
产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > > 测试仪 >X-Ray电镀膜厚测试仪

X-Ray电镀膜厚测试仪

简要描述:

X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成,测试简单,方便,易于人员快速掌握.

在线咨询 点击收藏

仪器介绍

 

X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成,测试简单,方便,易于人员快速掌握.

 

性能特点

 

专业贵金属检测、镀层测厚仪

内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

智能贵金属软件,与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

多变量非线性回收程序

 

技术指标

 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

X射线管:管电压50KV,管电流1mA

可测元素:Ti~U

检测器:正比计数管

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

 

标准配置

 

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

 

 技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低135eV

x荧光金属测厚仪采用的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30

应用领域

 

X-Ray电镀膜厚测试仪主要用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。广泛应用于电子电器、五金工具、精密汽车配件、表面处理、PCB线路板等企业。

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线客服