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主营产品:光谱仪,X射线镀层测厚仪,ROHS十项检测分析仪,ROHS2.0测试仪,X荧光测厚仪,手持式合金光谱仪,ROHS设备,电镀镀层测厚仪,天瑞ROHS检测仪,邻苯本甲酸酯测试仪
P产品分类RODUCT CATEGORY
仪器介绍
X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成,测试简单,方便,易于人员快速掌握.
性能特点
贵金属检测、镀层测厚仪
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
技术指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
标准配置
X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。
技术指标
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低135eV
x荧光金属测厚仪采用的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
应用领域
X-Ray电镀膜厚测试仪主要用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。广泛应用于电子电器、五金工具、精密汽车配件、表面处理、PCB线路板等企业。
138-0228-4651
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