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国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪

简要描述:

WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试,能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素,可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计,可以提供给客户经济便捷的维护。国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪

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产品介绍国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪

 

WDX-4000 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪是江苏天瑞仪器股份公司在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上,在国家重大科学仪器设备开发专项(项目编号:2011YQ170065)资金支持下,融合的科技创新和发明,推出的国内台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试,能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素,可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计,可以提供给客户经济便捷的维护。

 

性能特点

 

创新的测角仪设计

保护的创新型钢带传动系统,可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动,以保证精度的角度定位要求;

θ/2θ两轴独立运动,并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统;

永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动;

圆光栅测角重复性可达±0.0002度,精度达±0.0006度,足以保证优异的角度测量性能;

 

数字多道分析仪

12位,80M/s的模数转换采样率,是业界分辨率的信号采样系统,保证了信号采集的完整性

基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法,4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号

大动态范围测量,有效减少了探测器增益调节次数

 

X射线光管和高压

标准的4kW大功率电源系统,支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度

50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率,尤其适合低能X射线穿过

高压电源电压和电流可达60kV和160mA,用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数

双通道水冷系统,电导率保持在1uS以下,以限度延长光管工作寿命其他

多可支持10块晶体,可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体,以提升轻元素的检测能力

薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜,极大提升了轻元素的光通量

 

其他:

光谱室温度控制稳定性在±0.05?C以内

晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制

软件

完整而丰富的软件功能

32位软件系统,优异的可操作性和人机交互界面

成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据

基本参数法可提供多样化的分析手段,可进行无标样的半定量和定量分析

集成的SQLite数据库用于保存实验数据,方便数据查询和管理

 

技术指标国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪

 

进样系统

样品形式:固体

样品尺寸:51.5 mm ? × 40 mm 

样品重量:重500g

进样系统:双进样系统,标备除尘过滤器和预抽真空系统;一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空,互不干扰

自动进样机:自动机械手进样系统,多可装168个样品

自旋装置:3种自旋速度(低、中、高)

X射线光管

铍窗:50um/75um超薄铍窗,用以保证X射线的高通过率

阳极靶材料:标配铑靶,可选铜靶、钼靶、钨靶,铬靶,铂靶等

工作模式:样品进样时保持工作状态不变

水冷系统:双路水循环系统,电导率保持在1uS以下

高压电源

输出方式:1kV和1mA的标准调节单位,通过12位DA进行精细调节

长时间稳定性:0.01%/8 hours

温度稳定性:50 ppm/?C 

(20 ppm/?C可选).

数据

功率:4kW

KV/mA范围:电压20-60KV,电流10-140mA;电压75kV,电流160mA可选. 

测角仪

工作模式:创新型钢带传动系统,无摩擦,无回程间隙,带有圆光栅反馈,θ/2θ两轴独立运动

转角速度:6000 ? 2θ/min

测角精度:0.006° θ / 2θ

测角重复性:0.0002° θ / 2θ

步进角度:小 0.0001°,1°

角度扫描范围:流气比例计数器:12° to 150°@2θ

闪烁计数器: 0° to 120°@2θ

光路

准直器面罩:单面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可选)

主准直器:多可装3个: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可选

主滤光片:多4片: Pb,Al,Cu等元素可选

晶体:多10个: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.

探测器:流气比例计数器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜

闪烁计数器 (SC)

光室真空度:<15Pa

信号处理

数字多道分析仪:12位,80M/s采样速度,4096道分析能力,采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离

计数率:流气比例计数器:2Mcps

闪烁计数器: 1.5Mcps

脉冲漂移和增益校正:自动

死时间校正:自动

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