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X荧光矿石分析仪

简要描述:

X荧光矿石分析仪我国的地质矿产行业,从一开始均采用化学分析的手段对地质样品进行测试,这种方法一直沿用到现在依然是一种非常可靠的方法,但是其测试速度慢、对测试人员要求高、测试环境要求高,无法实现现场快速分析。

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XRF型X荧光矿石分析仪

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产品介绍

 

我国的地质矿产行业,从一开始均采用化学分析的手段对地质样品进行测试,这种方法一直沿用到现在依然是一种非常可靠的方法,但是其测试速度慢、对测试人员要求高、测试环境要求高,无法实现现场快速分析。

从70年代末开始一直在引入国外的分析设备来不断提升分析测试能力,到今天在地矿系统中应用非常广泛,产品分为台式和便携式。

 

Genius7000型便携式

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设备特点

 

X荧光法在应用于矿石行业的特点很明显,分析速度快,前处理简单,样品无损、人为误差小、分析范围广、检出限达到ppm级等的特点。可以测液体、固体和粉未样品。可用于室内外现场分析

1、设备简单易用(野外设备需要便携)

2、可快速对样品做定性分析

3、对样品可做半定量或准定量分析。

4、样品处理方法简单或无前处理

5、设备可靠、维修、维护简单

6、便捷、低廉的售后服务保证

 

设备作用

 

采用便携式主要是为了能在野外地质分析和找矿。为现场人员提供数据支持和依据。

在找矿和矿山冶炼过程中,也起到快速分析的作用,进行定性、定量分析,提供初级数据和生产控制实时数据

 

测试

 

便携式X荧光矿石分析仪测定多金属矿中元素的方法

测试对象:多金属矿

仪器:Genius 7000XRF

测定步骤:

步:前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。

第二步:确定测试时间:30S

第三步:测试其重复性得出相对标准偏差

测试结果

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EDX4500型台式

 

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产品配置

 

1.全机采用国外的进口配件

2.采用数字多道技术,高计数

3.植入公司-信噪比增强器

4.真空设计

5.测试元素:Na-U

6.带有8组准直器与5组滤光片自由切换

7.应用面广

 

产品特点

 

1、快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。

2、无损:物理测量,不改变样品性质

3、准确:对样品可以分析

4、直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快

5、环保:检测过程中不产生任何废气、废水

 

测试

 

台式测定镍矿中元素的方法

测试对象:镍矿标样和客户镍矿样

仪器:EDX4500

测定步骤:

步:前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。

第二步:确定测试时间:30S

第三步:测试其重复性得出相对标准偏差

第四步:客户提供一批样品的测试数据对比

测试结果

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