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镀层分析仪

简要描述:

镀层分析仪是一款利用X射线原理对金属镀层(镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀铑……)厚度进行无损检测的仪器,thick800a利用上照式方式,满足微小产品的测试,主要应用于精密五金、电子连接器、五金端子、螺丝等产品的厚度检测。

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镀层分析仪

 

标准配置


开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

技术指标


型号:Thick 800A

分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。

分析含量一般为2ppm到99.9%

X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

一次可同时分析多24个元素,五层镀层。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg


应用领域


金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
镀层分析仪主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。
可以测试 ,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测.

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