手持式X射线镀层测厚仪

新一代Genius XRF手持式X射线镀层测厚仪是专门针对在现场，野外进行X荧光分析的应用而设计，具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点，并在小型X射线仪上引入了数字多道技术，使仪器检出限更好，稳定性更高，适用面更广。

产品包括有害元素分析仪，合金镀层分析仪，矿石分析仪，土壤重金属分析仪，XRF等一系列专业型号，可充分满足从原料检测，生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析，金属材料的可靠性鉴别和合号快速识别，土壤重金属现场检测，各类地质矿样的野外原位多元素分析等市场需求。

该系列产品通过严格检测和验证，各项指标均符合相关技术要求，技术达水平。产品已开始批量销售于国内外市场，受到客户的好评，打破国外厂家的垄断。

性能优势

性能堪比台式机
小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上的探测器）及微型数字信号多道处理器三大核心技术的引入，大幅降低测试时间、提高检测精度、减少测试误差，使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
小巧便携、操作快捷
体积很小，便携、方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
快速检测
仪器既可手持1-2秒对样品进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10秒即可进行接近实验室精度的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪（手持式X射线镀层测厚仪），增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括电子电器产品、镀层厚度、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
高清摄像头检测更加精准


性能指标

分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
同时检测元素：数几十种元素可同时分析
处理器和内存：CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据。
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：3-30秒
GPS、WIFI：内置系统
电池使用时间：可充电锂电池，电池电量7800mAH,可持续工作8小时；配有宽电压110V-220V通用适配器，可交流供电使用。
检测对象：固体、液体、粉末
探测器：25mm2 0.3mil，SDD探测器
探测器分辨率：可达139eV
激发源：50KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片：直径4.0和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换，12种组合，世界上多的组合方式，可满足各种类样品的测试
检测对象：固体、液体、粉末
 

手持镀层测厚仪测样图片