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国产X荧光光谱分析仪_天瑞仪器

简要描述:

国产X荧光光谱分析仪_天瑞仪器 是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

更新日期: 2023-11-09

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 国产X荧光光谱分析仪_天瑞仪器

 参数规格                                            1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U);2.元素测试范围为 PPM级到99.99%;3.测量时间:60-400秒; 4.测试精度:0.05%(含量大于96%的样品);5.多次测量重复性可达0.1%(总荧光强度);6.长期工作稳定性为0.1%;(总荧光强度)     
产品配置1. SDD探测器;2. X 光管;3. 高、低压电源;4.数字多道分析器;                              5. 高精密摄像头;6. 移动平台(自动);7.超大样品腔;8.准直器自动切换;9.滤光片自动切换;10.准直器和滤光片的自由组合 仪器优势:1.       使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辩率达到139ev,各项指标优于国家标准。2.       立式柜机设计,大方,内部空间大,具有散热更快的特点,有效的延长设备使用寿命。3.       专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,有效的减少了样品均一性的影响,提高了样品的测试精度。4.       采用自主研发的数字多道技术,其线性计数率可达100KCPS。5.       采用了超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10pa以下,使设备的测试范围可以从F元素起可测试,大大提高了测试范围、轻元素检出限和精度。6.       设备可以在大气、真空、氦气环境下对样品进行检测,便于应对各种测试环境。7.       四组准直器,6组滤光片可以自动切换。8.       带有高清摄像头功能,便于查看样品的测试位置以及被测试面的变化。9.       仪器接缝采用密封条,防水防尘,可在高温高湿环境下连续使用,有良好的防潮防震防压三防功能。10.    专业软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制很小的特点。11.    具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。12.    自动化的程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。13.    全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件相结合的方法,应用面更加广大。14.    自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。15.    三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。16.    警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。17.    带有摄像头功能,可以随时查看被测样品的状态。
应用领域及应用领域:专为粉未冶炼行业研发的一款设备1.     土壤中金属元素分析2.     水泥冶炼3.     钢铁冶炼4.     铜矿、铅矿、等各种矿冶炼5.     铝冶炼6.     玻璃制造7.     耐火材材分析8.     各种粉未冶金分析行业9.     石油勘探录井分析 
 在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。X荧光光谱分析仪是属于大型光学精密一起。以前我国主要依靠进口光谱分析仪,进口的光谱分析仪价格昂贵,耗费国家大量外汇。所以一机都在75年组织了光电式光谱分析仪会战,从此我国可以自己大量生产大型X荧光光谱分析仪。X荧光光谱分析仪结构虽然很复杂,主要由下面四部分组成:光源、分光器(又称单色器)、接收器(又称探测器)、输出装置。为了更好的利用仪器和得到满意的测试结果,必须对仪器各主要部分的作用和原理有所了解。

 国产X荧光光谱分析仪_天瑞仪器产品优点

1.采样方式灵活,对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。
2.测试速率高,可设定多通道瞬间多点采集,并通过计算器实时输出。
3.对于一些机械零件可以做到无损检测,而不破坏样品,便于进行无损检测。
4.分析速度较快,比较适用做炉前分析或现场分析,从而达到快速检测。
5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。
光谱分析仪的缺点
1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。
2.不是原始方法,不能作为仲裁分析方法,检测结果不能做为国家认证依据。
3.受各企业产品相对垄断的因素,购买和维护成本都比较高,性价比较低。
4.需要大量代表性样品进行化学分析建模,对于小批量样品检测显然不切实际。
5.模型需要不断更新,在仪器发生变化或者标准样品发生变化时,模型也要变化。
6.建模成本很高,测试成本也就比较大了,当然对于大量样品检测时,测试成本会下降。
7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响,经常出现曲线非线性问题,对检测结果的准确度影响较大。

技术参数

产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱分析仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—

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