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主营产品:光谱仪,X射线镀层测厚仪,ROHS十项检测分析仪,ROHS2.0测试仪,X荧光测厚仪,手持式合金光谱仪,ROHS设备,电镀镀层测厚仪,天瑞ROHS检测仪,邻苯本甲酸酯测试仪
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考古陶瓷检测仪器EDX3600L是以X射线照射到样品表面,利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光子的能量和强度,以此来进行定性和定量分析。这种方法样品处理很简单,分析速度快,测量元素范围广,配合适当的标准参考物可得到较好的度,对样品表面基本无损伤,如果在仪器定制时加装真空大样品室,就可以进行大器物的无损测试了。综合这些优点,可以认为它是目前进行古陶瓷无损鉴定比较好的一种方法。
陶瓷器的鉴定曾经一度受到不可采样的限制,仅对一些大型器物底部取样作些热释光的年代分析工作,一些造假者甚利用射线源对新烧的仿制品进行辐照处理,以期对热释光的检测造成假象,干扰测试结果的结论。自打八十年代以来,大样品室的X射线荧光能谱仪问世,瓷器的釉表面成分原位无损检测既成事实,为瓷器的真伪判别引入了一种的方法。近一两年,由于河南汝窑遗址的发现,文物市场上一时间汝窑瓷器泛滥,各种形制、颜色的汝窑器着实让人眼花缭乱。在使用X射线荧光能谱仪对其瓷釉表面成分进行无损分析的过程中粗略统计了一下,民间收藏的待测品九成以上都是假货,其中大多数瓷釉成分中含有现代瓷釉制造的添加剂,而这些组分是宋代瓷釉中不可能出现的成分,用能谱仪检测此类器物可谓是轻而易举、手到擒来。我们知道绝大多数瓷釉的基本组分是由十种元素即:钠、镁、铝、硅、磷、钾、钙、钛、锰、铁的氧化物构成,不同时代、窑口烧造的瓷釉其组成成分的配比是有区别的,正因如此,我们可对经科学考古发掘的有确定年代和出土地点依据的参考瓷片釉层成分做出成分配比的数值分布范围,将受鉴定样品的成分配比与相应时代的参考片成分进行比对,据此判断被检样品在成分构成上的可靠性,实践证明,当前文物市场中周转的陶瓷器文物,有半数以上成分配比与古瓷片有较大差距,另有相当一部分含有古代瓷器瓷釉中所没有的组成成分,如氧化锌、氧化钡、氧化锆等现代瓷釉添加剂,对于这类赝品瓷器,通过成分检测可以非常容易的认定其属性。如仿汝瓷釉含氧化锆、氧化锌。
三、解决方案
考古陶瓷检测仪器EDX3600L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样,一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量,再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时,为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性,我公司特意根据行业需要制作超大型抽真空样品腔,以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
江苏天瑞仪器股份有限公司生产的EDX3600L系列的仪器是一款专门针对于古文物检测而量身定做的无损测量的能量色散X荧光分析仪器,其技术参数如下:
测量元素范围:从钠(Na)铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
测量镀层:镀层厚度测量薄0.01微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:30s—200s
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
输入电压:AC 110V/220V
消耗功率:200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
标准配置
超薄窗大面积的*Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸: 800×710×1360 mm
样品腔尺寸:600×600×800mm
重量:280kg
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古饰
镀层测厚
我公司研制生产的EDX3600L型的仪器,利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样,一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量,再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性,我公司特意根据行业需要制作超大型的抽真空样品腔,以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
138-0228-4651
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