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下照式X光检测金属镀层厚度_天瑞仪器

简要描述:

下照式X光检测金属镀层厚度_天瑞仪器 应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测
厚仪采用下照式结构,仪器操作简单,测试,售后服务可靠及时。 
性能特点EDX1800B采用下照式:适合平面样品的镀层测试需求;准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足不同样品材质和形状的检测;移动

更新日期: 2023-11-08

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下照式X光检测金属镀层厚度_天瑞仪器

 应用领域铁基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr,          □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag铜基----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr锌基----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au塑胶基体----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr 技术参数  1   分析元素范围:S-U2   同时可分析多达3层以上镀层3   分析厚度检出限达0.01μm4   多次测量重复性可达0.05μm5   定位精度:0.5mm5   测量时间:30s-300s6   计数率:1300-8000cps7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例,分析的范围是0.01—30um,在这个范围内,才能检测。0.5-10um的,偏差是5%,就是说真值是1um,用仪器测试的值是0.95-1.05um。 仪器硬件配置                                       1. X 光管2. 高、低压电源3. MCA多道分析器:                              4. 高精密摄像头5. 移动平台(自动)6. 超大样品腔7. 准直器自动切换8. 滤光片自动切换9. 准直器和滤光片的自由组合10. 标准样品

质量保证1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修;2. 软件免费升级:如有软件升级,乙方将免费提供软件升级,不再收取升级费用;3. 保修条款3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年;3.2. 免费保修期内,维修相关费用全免;

下照式X光检测金属镀层厚度_天瑞仪器介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是国内的X荧光镀层测厚仪生产企业, 产品打破了国外垄断局面,在行业内国内销量*,分析仪器上市公司。
公司是专业生产X荧光测厚仪,气相色谱质谱仪(GCMS),五金镀层测厚仪,x射线测厚仪,ROHS检测仪,手持式ROHS光谱仪,手持式合金分析仪,ROHS检测设备,电镀层测厚仪,五金镀层测量仪,天瑞ROHS仪,X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是国内在创业板上市的分析仪器企业。公司产品主要应用于环境保护与安全(空气、土壤、水质污染检测等)、矿产与资源(地质、采矿)、商品检验甚人体微量元素的检验等众多领域。

 

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