荧光镀层测厚仪_天瑞仪器

 
荧光镀层测厚仪_天瑞仪器技术参数
1.1 分析元素范围：K-U
1.2 同时可分析多达5层镀层
1.3 分析厚度检出限达0.005μm
1.4 定位精度：0.1mm
1.5 测量时间：5s-300s
1.6 计数率：0-8000cps
1.7 Z轴升降范围：0-140mm
1.8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。

光谱镀层测厚仪_荧光镀层测厚仪厂家_skyray
能量色散X荧光光谱仪THICK 600

荧光镀层测厚仪_天瑞仪器技术参数
1.1 分析元素范围：K-U
1.2 同时可分析多达5层镀层
1.3 分析厚度检出限达0.005μm
1.4 高压：5kV-50kV
1.5 管流：50μA-1000μA
1.6 测量时间：5s-300s
1.7 样品腔尺寸：306mm×260mm
1.8  计数率:0-10000cps
工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。

光谱镀层测厚仪_荧光镀层测厚仪厂家_skyray
能量色散X荧光光谱仪EDX 1800B

技术参数

1.1 分析元素范围：S-U
1.2测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）
1.3元素测量范围：PPM级-99.99%
1.4 高压：5kV-50kV
1.5 管流：50μA-1000μA
1.6 能量分辨率：165±5eV
1.7 RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。
1.8 测量时间：60s-300s
1.9 计数率：1300-8000cps
工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。