天瑞X荧光镀层测厚仪

  天瑞X荧光镀层测厚仪  .X射线管激发系统
激发系统采用*的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、水平的X光管，指标达到水平。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
3.高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。分辨率能达到149eV±5ev。
4.能谱仪电子学系统
*前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。
5.计算机分析系统
品牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。喷墨打印机。
6.系统软件
*的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的性。
7.电源
AC 220V～240V、50Hz 。额定功率：120W。选配高精度参数稳压电源。

  天瑞X荧光镀层测厚仪 应用领域
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
X荧光测厚仪（国产）主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。